Équipements de la plate-forme THEMIS

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JEOL 2100

JEOL 2100

Localisation : Campus de Beaulieu bâtiment 10A pièce 051.

Source d'électrons : pointe LaB6.

Tension d'accélération : entre 80 et 200KV.

Équipements connexes :

Module de balayage STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy).
Détecteurs JEOL BF/HAADF (Bright Field/ High Angle Annular Dark Field).
Détecteurs GATAN BF/HAADF (Bright Field/ High Angle Annular Dark Field).
Sonde EDS (Energy Dispersive Scattering) SDD (Silicon Drift Detector) Oxford 80 mm2.
GIF (Gatan Image Filter) : Imagerie filtrée en énergie et spectroscopie de perte d'énergie (EELS)
Module de précession électonique Nanomégas Digistar.
Caméra CCD (Charge Coupled Device) Orius 200D : imagerie conventionnelle et diffraction.
Caméra CCD UltraScan 1000 : imagerie haute résolution.
Caméra CCD UltraScan 1000 en sortie de GIF: imagerie filtrée et EELS.

Autres équipements

Les porte-objets

Porte-objet simple tilt standard.
Porte-objet double tilt analytique.
Porte-objet simple tilt traction.
Porte-objet simple tilt double orientation tomographie.

Équipements de préparations d'échantillons

Localisation : Campus de Beaulieu bâtiment 10A pièces 051, 044/1, 045/1 et 046.
 

  • Polisseuses, tripode.
  • Scie à fil, scie à disque, carotteuse ultrasons.
  • Amincisseur concave.
  • Amincisseur ionique.
  • Amincisseur électrolytique.
  • Microscopes optiques.
  • Évaporateur carbone et métalliseur.
  • Plasma cleaner.

Les Logiciels

GATAN Digital Micrograph (DGM) (analyse EDS, analyse EELS, reconstruction tomographique 3D...).
Aztec 2.2 (analyse EDS).
JEMS (Simulation d'image haute résolution et de cliché de diffraction).
ADT3D (reconstruction 3D de clichés de diffraction).